CITS880控制阻抗測試系統(tǒng)

作為PCB制造商，幾乎可以肯定的是，您現(xiàn)在可以為客戶生產阻抗受控的PCB –估計這些類型的板約占市場的70％。但是，您如何驗證PCB的特性，控制生產過程并向客戶證明其質量合格？

CITS880是Polar的第八代阻抗測試系統(tǒng)，通常是阻抗控制新客戶喜歡的型號。CITS880提供差分和單端測量功能以及4個通道，以提供靈活的探頭連接。

受控阻抗PCB被廣泛用于各種應用中，以幫助確保高頻信號的完整性。每當數字信號的邊沿速度超過1ns或模擬信號攀升至300MHz以上時，設計人員總是這些類型的PCB。

CITS880 –簡化阻抗測量

專為PCB生產環(huán)境而設計，
非常適合CEM內向檢查
測量PCB和測試試樣
客戶*性報告
自動數據記錄
緊密耦合跡線的增強準確性
多點可跟蹤校準
可選的串擾測試設施
借助Speedstack
 PolarCare維護和支持生成CITS測試程序

PCB走線的特征阻抗取決于走線的尺寸和PCB材料的特性-批次之間可能會有所不同。為了控制走線阻抗，PCB制造商通常會改變走線寬度，以補償不同批次的PCB材料。從歷*看，然后他們被迫使用專業(yè)的實驗室設備，例如時域反射儀（TDR）來測量刻在板上或測試試樣上的代表性跡線的特性。這種方法復雜，昂貴且在生產環(huán)境中遠非理想。

許多電子設計人員，尤其是那些在國防/航空，通信和IT行業(yè)中突破性能極限的設計人員，現(xiàn)在正在通過使用差分信號和平衡走線來提高阻抗抗擾度并減少超高速互連的時序誤差，從而將可控阻抗PCB進一步提高了。對于服務于這些快速增長的電子行業(yè)的PCB制造商而言，驗證這些平衡走線的差分阻抗現(xiàn)在是一項簡單的任務。

polar CITS880控制阻抗測試系統(tǒng)極性測試探針

Polar生產廣泛的特殊測試探頭，包括此處所示的IPD-100差分模型。創(chuàng)新的可變螺距模型，稱為IP-50V，也可用于實驗室。

點擊圖片查看應用

通過確保您的優(yōu)惠券采用以下“探針零件號之一進行設計，將IP探針的成本降至低：

IP50 / 0.1英寸，IP50 / 0.14英寸
ACC270，ACC272 
ACC274，ACC275

Polar的  優(yōu)惠券生成器將使您能夠使用多種樣式和探針腳印來設計測試優(yōu)惠券。

有關探頭腳印的完整選擇，請參見應用筆記AP146。

易于使用

CITS阻抗測試系統(tǒng)非常易于使用。基于Windows的強大軟件可以自動化測試的各個方面，只需單擊鼠標或腳踏開關即可控制整個過程。您只需放置微帶探頭，選擇一個包含正常PCB測試阻抗和公差的測試文件，然后按下腳踏開關即可。不需要執(zhí)行通常與復雜TDR測量相關的任何調整，例如設置垂直增益，脈沖時間延遲和時基值。為了獲得大的吞吐量，CITS可以自動執(zhí)行一系列阻抗測試，

測試結果易于理解-CITS自動處理數據，以清晰顯示特征阻抗與距離的關系，并清晰顯示通過/未通過狀態(tài)。

自動數據記錄功能可將測試結果以及系統(tǒng)設置數據和測量標準輕松導出到各種第三方數據庫或電子表格程序包，以進行實時統(tǒng)計過程控制。每個測試的通過/失敗狀態(tài)也可通過儀器后面板上的光電隔離信號獲得，從而有助于與其他工廠自動化設備集成。

可追溯的測量活動

可追溯的測量精度補充了CITS的操作簡便性。此外，質量保證專家仍然可以自由復雜的測量參數以及標準測試功能，例如通過/失敗限制，結果處理和數據記錄。

使用參考空氣線進行多點校準可確保從28歐姆以下的單端到150歐姆以上的差分可追溯的阻抗測量。

您可以打印測試結果以為客戶提供*性報告，可以將數據存儲在磁盤上以用于存檔或將來分析，也可以將其導出以用于實時SPC。可選的數據日志報告生成器（DRG）可容納多種標準格式，以簡化報告過程。條形碼閱讀器也作為選件提供，它可以在測試過程中掃描PCB識別標簽，從而減少了處理時間并消除了錯誤。

設計和過程控制

在考慮開始進行阻抗控制的生產時，您還會發(fā)現(xiàn)Polar Si8000m阻抗控制設計系統(tǒng)可幫助您根據生產過程定制客戶設計。這也是幫助您的前端團隊優(yōu)化輸入數據以大程度地控制阻抗產生的理想選擇。與CITS和Si8000m一起使用將為您提供阻抗測試和過程控制的完整解決方案。

自動生成測試程序

Speedstack層疊層軟件現(xiàn)在可以直接從控制阻抗輸出CITS880測試程序疊層。

具有CITS DRG的專業(yè)報告-數據日志報告生成器選項

CITS DRG數據日志報告生成器選項使您可以以專業(yè)格式交付完成的測量結果報告。