布魯克InSight CAP自動原子力顯微鏡

InSight CAP緊湊型原子探查器

基于生產的深度計量

布魯克的InSight CAP自動原子力輪廓儀專門設計用于半導體制造商和供應商的CMP和蝕刻計量的組合平臺。InSight CAP系統(tǒng)具有300毫米自動處理功能和久經考驗的GEM工廠自動化軟件。

InSight CAP提供

• CMP和蝕刻的行業(yè)的精度和分辨率
• 無需模型的無損計量
• 在線計量只需幾分鐘即可完成，適用于技術開發(fā)
• 占地面積小，配置靈活，可實現(xiàn)擁有成本

布魯克InSight CAP自動原子力顯微鏡計量

在*技術節(jié)點上，利用多圖案光刻技術對CMP提出了納米工藝控制要求，以滿足聚焦深度的需求。InSight CAP圍繞一代的AFM掃描儀構建，可在65μmX / Y掃描范圍內提供小于10納米的改進平面度。該系統(tǒng)的NanoScope®V 64位AFM控制器提供5倍的接合性能和5倍的調諧速度，以提高生產率，同時還具有增強的可靠性。其DT自適應掃描模式還有助于加快掃描速度并改善計量。憑借其*功能的結合，InSight CAP高分辨率輪廓儀可實現(xiàn)埃級精度，以測量宏觀凹陷和腐蝕。

價值平臺

靈活的配置可支持100毫米至300毫米的晶圓尺寸，從而可以針對各種終應用進行精確測量。從高效的實驗室到全自動的晶圓廠，InSight CAP Profiler可以針對經濟高效的計量解決方案進行配置。